掃描電化學顯微系統（SECM）

交流掃描電化學顯微鏡系統（ac-SECM）

間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統（ic-SECM）

微區電化學阻抗測試系統(LEIS)

掃描振動點選測試系統（SVET）

電解液微滴掃描系統（SDS）

交流電解液微滴掃描系統（ac-SDS）

掃描開爾文探針測試系統（SKP）

非觸式微區形貌測試系統（OSP）

出色的效能

快速精準的閉環定位系統為電化學掃描探針奈米級研究的需求而特別設計↟•。結合Uniscan 獨特的混合型32-bit DAC技術↟↟✘│·，使用者可以選擇合適實驗研究的最佳配置

先進和靈活的工作平臺

系統可提供9種探針技術↟↟✘│·，使得M470成為全球最靈活的電化學掃描灘鎮工作平臺↟•。

全面的附件

7種模組可選↟↟✘│·，3種不同電解池↟↟✘│·，各式探針↟↟✘│·，長距顯微鏡以及後處理資料分析軟體↟•。

M470新產品特徵

SECM自動處理曲線

SECM使用者自定義處理曲線步長變化

高解析度讀取

手動或自動調節相位

M470同時具備如下特點╃▩：

傾斜校正

X或Y曲線相減（5階多項式）

2D或3D快速傅立葉變化

實驗↟↟✘│·，探針移動和區域繪圖的自動排序

圖形實驗測序引擎（GESE）

支援多區域掃描

所有實驗多個數據檢視

峰值分析

M470是由Uniscan儀器開發的第四代掃描探針系統↟↟✘│·，具有更高規格和更多探針技術↟•。

M470技術引數

工作站（所有技術）

掃描範圍（x,y,z）             大於100mm

掃描驅動解析度                 最高0.1nm

閉環定位                          線性零滯後編碼器↟↟✘│·，直接實時讀出x,z和y位移

軸解析度（x,y,z）             20nm

最大掃描速度                    12.5mm/s

測量解析度                       32-bit解碼器@高達40MHz

壓電（ic-和ac-掃描探針技術）

振動範圍                          20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量

最小振動解析度                 0.12nm(16-bit DAC,4μm)

壓電晶體伸展                    100μm

定位解析度                       0.09nm(20-bit DAC ,100μm)

機電

掃描前端                          500×420×675mm(H×W×D)

掃描控制單元 275×450×400mm(H×W×D)

功率 250W